Seznam abstraktů 2020

Seznam abstraktů 2020: SEKCE E - POKROČILÉ METODY PŘÍPRAVY A CHARAKTERIZACE NANOSYSTÉMŮ

Datum: 22.10.2020

Nanocharacterization, Techniques, Metrology
12:35 - 12:50
E7
JURMANOVÁ Jana
Masaryk University, Brno, Czech Republic, EU
Characterization of Edge Structure and Misorientation between Layers of Microwave Plasma Synthesized Few-layer Graphene Nanosheets

Datum: 23.10.2020

Zpět

Hlavní sponzoři

Nicolet CZ s.r.o.
Měřící technika Morava s.r.o.
Elmarco s.r.o.
Vakuum servis s.r.o.

Sponzoři a vystavovatelé

DELONG INSTRUMENTS a.s.
ANAMET s.r.o.
Nanosurf GmbH
Spinsplit Kft.
AMERICAN ELEMENTS
iNSyT solutions / LMU Munich

Organizátor a partneři

TANGER, spol. s r.o.
Česká společnost pro nové materiály a technologie, z.s.
Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů